半导体产品测试可用高低温试验箱

  高低温试验箱是一种能够模拟极端温度环境的仪器，它可以让半导体产品在高温、低温以及高低温循环的条件下进行测试。如KST高低温箱系列，KST-150L型号，内箱尺寸：W50*D50*H60cm，外箱尺寸：W70*D140*H175cm，能满足不同尺寸半导体样品的测试要求 。

  科胜仪器高低温试验箱采用先进的技术和设计，能够精确地控制温度范围，温度范围通可做到-70℃到+180℃，配备了高精度温度传感器，温度波动度和均匀度均控制在±0.5℃以内。通过对半导体产品进行严格的温湿度循环测试，可以筛选出不符合要求的产品，以确保产品的一致性和可靠性。这有助于降低产品的不良率和维修率，提高产品的质量和可靠性。

性能特点：

  温度控制精准：高低温试验箱的温度波动度、均匀度和偏差等指标均达到高标准。温度稳定后，能精确控制在极小的范围内，如一般标准要求的温度偏差为 ±2℃，这对于半导体这种对温度变化敏感的产品测试至关重要，可确保测试结果的准确性和可靠性。

  制冷与制热系统可靠：采用先进的制冷循环系统，如两个单级制冷系统复叠的制冷循环、两级压缩系统复叠的制冷循环或三元复叠制冷循环等，能够快速达到设定的低温或高温，并保持稳定。

  安全保护装置完善：设备自带压缩机高压、过热、空焚、过电流、循环风扇过电流超载、高温保护等 14 处安全保护装置，可防止因设备故障导致的半导体产品损坏，同时保障操作人员和设备的安全。

  符合标准：满足国家标准 GB10592-89 高低温试验箱技术条件以及 GB2423.1、GB2423.2《电工电子产品环境试验 试验 A：低温试验方法，试验 B：高温试验方法》等相关标准，可按照不同的标准要求对半导体产品进行严格的测试。

  在可靠性评估方面，高低温试验箱可以模拟半导体产品在极端环境条件下的使用情况，例如极高温度、低温、高湿度或湿热环境。这些条件下的测试可以评估芯片在长期使用过程中的可靠性，并确定其在不同环境下的工作限制。性能分析也是高低温试验箱的一个重要应用，温度和湿度的变化可能会影响半导体产品的电气特性和性能，如功耗、响应时间、电流泄漏等，通过在高低温试验箱中进行测试，可以评估产品在不同温度和湿度条件下的性能表现，从而为产品设计和优化提供参考。

  此外，高低温试验箱还可以用于耐久性分析。半导体产品在温度循环和湿热循环条件下的膨胀和收缩过程可能导致材料疲劳、接触问题、脱焊等问题。高低温试验箱可以模拟这些应力和变化，并帮助评估产品的耐久性和稳定性。通过检测产品在循环条件下的性能退化情况，可以提前识别潜在的问题，改进设计和制造工艺。